GY8120是奧譜天成公司全新推出的全光譜透過率測量系統，這是一款數據精確，操作方便，性&價&比&超&高的新型設備。先進的光譜測量技術，可進行全光譜的透過率測量，具有快速、簡易、準確等特性。能快速地檢測手機面板及各類透明及半透明產品的透過率，適用于光學、化工等工業及科研領域!

采用優質的光譜儀進行光譜檢測接收，內置勻光系統對透射光譜進行光束整形。檢測光斑可調，更好的匹配的了不同尺寸樣品的測試，面測量相對于單點測量具有更可靠的測量準確性。

直觀友好的用戶界面使得技術人員和非技術人員均可輕松完成操作；優質的硬件配置和耐用的多變量算法更進一步的確保了實驗結果的準確性、一致性和可靠性。

特點

無損、快速檢測，一鍵操作；

極寬的光譜測量范圍：200nm-2500nm；

根據測量樣品屬性，提供多型號可選；

靈活搭配的透射測量方案；可測量整段光譜透射率。

采用高精度光譜測量技術，精度高、測量速度快、穩定性好；

優異的波長重復性達0.1nm；

高信噪比，最小化雜散光；

信噪比最高可達≥1000：1；

測試時間短；

測量光斑可調，適用于不同尺寸樣品；

測量精度高，檢測誤&差＜0.2%；

可用于實時在線檢測。

典型應用

手機蓋板IR孔

各種薄膜透光率測量

閃光燈孔透過率測量

鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板透過率測量

太陽膜、濾光片透光測量

聚光玻璃、毛玻璃、鏡片

珠寶、涂層檢測分析

鏡頭透過率測量